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      山東惠分儀器有限公司

      惠分儀器專注于氣相色譜儀的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售,實現(xiàn)了色譜系列全覆蓋。

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      基線常見故障排除

      2024-02-20

      0


      A所有組分峰變小

      可能原因 建議措施

      1進樣針缺陷 使用新針或無缺陷的針

      2進樣后漏夜 判斷漏夜點,維修之

      3 MAE UP過大:分流比過大 調(diào)整氣體流速和分流比

      4 分析物質(zhì)分子量過大,底揮發(fā)樣品時 提高INJ。OVEN(主要柱子的最高使樣品的汽化溫度過低,或柱溫度低 用溫度)

      5 NPD被污染物(二氧化硅)覆蓋 更換銣珠

      6NPD溫度過高(使用或環(huán)境溫度),氣體不純 更換銣珠:避免高溫使用

      7不分流進樣,分流閥關閉快:初始OVEN溫高

      8 檢測器與樣品不匹配

      9樣品的揮發(fā) 調(diào)整樣品的的濃度或選擇合適的溶劑

      B峰伸舌

      峰伸舌多右色譜柱過載 減小進樣量(可能需提高儀器的sensitivty

      使用大容量柱子:提高OVEN,INJ溫度:

      增大氣體流速

      C峰高峰面積不重復

      1進樣不重復,偏差大 自動進樣器:加強手動進樣的練習

      2其他峰型變化引起的峰錯位,干擾

      3基線的干擾

      儀器系統(tǒng)參數(shù)設定的改變 參數(shù)標準化,規(guī)范化

      D負 峰

      1 Detector有數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)信號極性接反 信號連接倒置

      2 TCD中,樣品導熱系數(shù)大于載氣導熱系數(shù) 選擇數(shù)據(jù)處理中的“負峰處理”

      3 ECD被污染,可能在正峰后跟隨負峰 清洗ECD,更換之(若有必要)

      E樣品的檢測靈敏度下降

      1色譜柱,襯管被污染,使活性物質(zhì)靈敏度小將 清洗襯管:用溶劑(優(yōu)級純甲醇)清洗色譜柱:更換之(如有必要)

      2進樣時樣品滲漏(對易揮發(fā)物質(zhì)更甚) 查找滲漏點

      3 在splite汽化進樣中,OVEN初始溫度過高 用低于樣品溶劑的初始溫度;致使樣品汽化后擴散加劇,導致撕沸點樣品靈敏度下降 使用高沸點溶劑

      F 峰分叉

      1 進樣過激,不穩(wěn)定,形成二次進樣 練習手動進樣:使用自動進樣器

      2色譜柱安裝失敗 重新安裝

      3 spliteless或柱頭進樣,樣品溶劑的混合 使用相同的溶劑

      4柱子溫度波動 修理穩(wěn)控系統(tǒng)

      5 spliteless進樣,量大,時間長。希望用“溶劑 在毛細管色譜柱前端安裝5米的去

      效應“譜帶濃縮時,溶劑的固定相的濕潤性差 活化,未覆蓋固定液的毛細管

      溶劑將在柱子中形成幾米長,厚度不等的溶劑帶

      破壞正常的濃縮,使峰拉寬分叉

      J 峰拖尾

      1襯管,色譜柱被污染;有活性點 清洗,更換之 (如有必要)

      2襯管,色譜柱安裝不黨,存在死體積 注射甲烷,峰若拖尾,則重新安裝

      3色譜柱柱頭不平 用金剛砂切割,使之平

      4固定相的極性指標與樣品分析不匹配 換匹配的柱子

      5 樣品流通路線中有冷井 消除路線中的過低溫度區(qū)

      6襯管或色譜柱中有堆積切割碎屑 清洗更換襯管;切除柱頭10cm

      7 進樣時間過長 縮短之

      8分流比低 增大分流比(至少大于20/1)

      9進樣量過高 減小進樣體積或稀釋樣品

      10 醇胺,伯胺,叔胺和羧酸類易拖尾 用極性大的色譜柱;樣品衍生處理

      H保留時間漂移

      1 溫度變化 檢查柱溫箱的溫度

      2氣體流速變化 注射甲烷,測定載氣線速度

      3進樣口泄露 檢查進樣墊;判斷其他泄露處

      4溶劑條件變化 樣品,標準品使用相同的溶劑

      5色譜柱被污染 切除柱頭10cm;高溫老化,清洗

      I分離度下降

      1色譜柱被污染 方法同上

      2 固定相被破壞(柱流失) 更換之

      3 進樣失敗 檢查泄露,維修之檢查吹掃時間

      檢查溫度的適應性;檢查襯管

      4樣品濃度過高 稀釋;減少進樣量;用高分流比

      H溶劑峰拉寬

      1色譜柱安裝失敗

      2進樣滲漏

      3進樣量高 提高汽化溫度

      4分流比低 提高分流比

      5OVEN低

      6 分流進樣時,初始OVEN過高 降低初始柱溫,使用高沸點溶劑

      7吹掃時間過長(不分流進樣) 定義短時間的吹掃程序

      基線問題

      A基線向下漂移

      1 新安裝的柱子,基線連續(xù)向漂移幾分鐘 繼續(xù)老化

      2 檢測器未達到平衡 延長檢測器的平衡時間

      3 檢測器或GC系統(tǒng)中其他部分有沉積物被烤出來 清洗之

      B 基線向上漂移

      1色譜柱固定相被破壞

      2 載氣流速下降 調(diào)整載氣壓力;清洗壓力和流量調(diào)節(jié)閥

      C噪音

      1毛細管末插入檢測器太深 重新安裝色譜柱

      2 使用ECD,TCD氣體泄露引發(fā)基線噪音 檢查,維修氣路

      3 FID ,NPD ,F(xiàn)PD燃氣流速或燃氣選擇不當 高純?nèi)細猓{(diào)整流速

      4進樣口被污染 清洗進樣口;更換擱墊;更襯管中的玻璃纖維或硅烷化

      5毛細管色譜柱被污染 切除首端10cm;用溶劑清洗色譜柱;更換之

      6檢測器發(fā)生故障 維修,更換之

      7檢測器電路發(fā)生故障 聯(lián)系生產(chǎn)商或維修機構(gòu)(專業(yè))

      D Offset(基線位置的突然改變

      1電源電壓波動 使用穩(wěn)壓器

      2 電路接口處連接不好 檢查,清洗其接口處,擰緊接口

      3進樣口被污染

      4色譜柱被污染

      5毛細管末端插入檢測器太深

      6 檢測器被污染

      E毛刺

      1 電磁干擾 關閉電磁干擾源

      2顆粒污染進入檢測器

      3氣路密封松動,氣體泄露 擰緊松動的密封

      4檢測器內(nèi)部電接口或輸入,輸出信號接口松動 檢查,清洗,擰緊接口,更換之

      積塵或被腐蝕

      F Wander(低頻率的噪音)

      1溫度,壓力等環(huán)境條件的波動 找到環(huán)

      關鍵詞:

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